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standard configuration, see specification X-Ray fluorescence for analysis of materials (such as liquids and solid states) in order to obtain information about thickness, concentrataion, etc.Measurement system for layer thickness analysis of metallic surfaces and evaluation of concentrations of solutions (Au, Ni, Sn, Cu, Ag).System is fully packed on pallette (241kg, 1mx0,9mx1,5m)OEM 모델 설명
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OXFORD
CMI 950
검증됨
카테고리
Analytical
주요 품목 세부 정보
조건:
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작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
12965
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2000
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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마지막 검증일: 60일 이상 전
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