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OXFORD CMI 950
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    standard configuration, see specification X-Ray fluorescence for analysis of materials (such as liquids and solid states) in order to obtain information about thickness, concentrataion, etc.Measurement system for layer thickness analysis of metallic surfaces and evaluation of concentrations of solutions (Au, Ni, Sn, Cu, Ag).System is fully packed on pallette (241kg, 1mx0,9mx1,5m)
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    OXFORD

    CMI 950

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    검증됨

    카테고리

    Analytical
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    주요 품목 세부 정보

    조건:

    알 수 없음


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    12965


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    2000

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    Logistics Support
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    Transaction Insured by Moov
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    제품 ID:

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