메인 콘텐츠로 건너뛰기
Moov logo

Moov Icon

WM-2500

카테고리
Mask Inspection
개요

Light source: Argon ion laser Detecting/scanning method: Scattered light detecting / helical scanning method Detectivity: Bare 0.055 microns / film 0.07 microns Dynamic range: 0.055 microns to 5 microns Reproducibility: σn /≦1% Wafer Size 200/150mm

활성 등재물

2

서비스

검사, 보험, 감정, 물류

상위 등재물

이런 제품이 있으신가요?
Moov에 등재하고 즉시 완벽한 구매자를 찾으십시오.