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phase shiftOEM 모델 설명
A new wafer flatness and shape metrology tool for 300mm and advanced 200mm production, the WaferSight measurement precision allows wafer and device manufacturers to meet ITRS metrology requirements down to the 35nm generation. Utilizing optical technologies, the WaferSight system extends ADE’s market presence in wafer dimensional metrology.문서
문서 없음
KLA / ADE
WAFERSIGHT
검증됨
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 7일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
82919
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Metrology
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A new wafer flatness and shape metrology tool for 300mm and advanced 200mm production, the WaferSight measurement precision allows wafer and device manufacturers to meet ITRS metrology requirements down to the 35nm generation. Utilizing optical technologies, the WaferSight system extends ADE’s market presence in wafer dimensional metrology.문서
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