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SpectraShape 9000

카테고리
Metrology
개요

The SpectraShape 9000 utilizes an array of optical technologies and a new high intensity light source to characterize and monitor the critical dimension (CD) and shapes of 3-D transistors, memory cells and other complex features used in high-performance IC devices.

활성 등재물

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서비스

검사, 보험, 감정, 물류

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