설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Light source: Argon ion laser Detecting/scanning method: Scattered light detecting / helical scanning method Detectivity: Bare 0.055 microns / film 0.07 microns Dynamic range: 0.055 microns to 5 microns Reproducibility: σn /≦1% Wafer Size 200/150mm문서
문서 없음
TAKANO / TOPCON
WM-2500
검증됨
카테고리
Reticle / Mask Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
65917
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Light source: Argon ion laser Detecting/scanning method: Scattered light detecting / helical scanning method Detectivity: Bare 0.055 microns / film 0.07 microns Dynamic range: 0.055 microns to 5 microns Reproducibility: σn /≦1% Wafer Size 200/150mm문서
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