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LEO 1455
    설명
    LEO Scanning Electron Microscope (Parts only)
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    SEM feature extra-large chambers for the non-destructive examination of large samples
    문서

    문서 없음

    LEO

    1455

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    검증됨

    카테고리
    SEM / FIB

    마지막 검증일: 23일 전

    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    116674

    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음

    빈티지:

    알 수 없음

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    LEO 1455

    LEO

    1455

    SEM / FIB
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일23일 전

    LEO

    1455

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    검증됨
    카테고리
    SEM / FIB
    마지막 검증일: 23일 전
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    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    116674

    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음

    빈티지:

    알 수 없음

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    환경 설정 없음
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