설명
Detectors: Secondary electron (SEI) Low vac SEI (VPSE G4) Back scatter (HDBSD)환경 설정
-W and LaB6 cathodesOEM 모델 설명
Zeiss EVO 15 Scanning Electron Microscope. This is a flexible variable pressure SEM with wide range of detectors and analysis software. Sample prep is supported with a Cressington gold sputter coater and a Leica carbon coater.문서
문서 없음
ZEISS / CARL ZEISS
EVO MA15
검증됨
카테고리
SEM
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
58413
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2016
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
모두 보기유사 등재물 없음
ZEISS / CARL ZEISS
EVO MA15
검증됨
카테고리
SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
58413
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2016
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Zeiss EVO 15 Scanning Electron Microscope. This is a flexible variable pressure SEM with wide range of detectors and analysis software. Sample prep is supported with a Cressington gold sputter coater and a Leica carbon coater.문서
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