JEM-F200
카테고리
TEM개요
The JEM-F200 (F2) Multi-purpose Electron Microscope from JEOL is an advanced 200kV field emission scanning transmission electron microscope (S/TEM) designed for high-throughput nanoscale imaging and chemical analysis.
활성 등재물
0
서비스
검사, 보험, 감정, 물류
상위 등재물
- 제품을 찾을 수 없음