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Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 6 inch Si OF Modified spec - 4/6inch Si/ SiC (on tray)OEM 모델 설명
S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.문서
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HITACHI
S-8640
카테고리
CD-SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
131709
웨이퍼 사이즈:
4"/100mm, 6"/150mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Resolution 5nm, Repeatability 1%, CD range ≥0.1μm Original spec - 6 inch Si OF Modified spec - 4/6inch Si/ SiC (on tray)OEM 모델 설명
S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.문서
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