설명
CD-SEM환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The S-9380 is Hitachi’s most advanced CD-measurement SEM developed for 65 nm process control of semiconductor devices on wafers up to 300 mm in diameter. With improvement in both hardware and software, the S-9380 supports a high throughput of 33 wafers per hour with 20 measurement points per wafer, and resolution of 2.0 nm.문서
문서 없음
HITACHI
S-9380
검증됨
카테고리
CD-SEM
마지막 검증일: 13일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
118475
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
HITACHI
S-9380
카테고리
CD-SEM
마지막 검증일: 13일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
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제품 ID:
118475
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The S-9380 is Hitachi’s most advanced CD-measurement SEM developed for 65 nm process control of semiconductor devices on wafers up to 300 mm in diameter. With improvement in both hardware and software, the S-9380 supports a high throughput of 33 wafers per hour with 20 measurement points per wafer, and resolution of 2.0 nm.문서
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