설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
"The high-throughput, fully automatic Applied SEMVision G2 Defect Analysis system enables customers to use this technology as an integral part of their production lines to analyze defects as small as 50nm with high productivity."문서
문서 없음
APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G2+E
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
24507
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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