설명

설명 없음

환경 설정

QZ_Defect

OEM 모델 설명

high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.

문서

문서 없음

ASML / HMI

eP3

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 13일 전

주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

144870

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2014

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

유사 등재물

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ASML / HMI

eP3

Defect Inspection

빈티지: 2014조건: 중고

마지막 검증일13일 전

ASML / HMI

eP3

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 13일 전

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주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

144870

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2014

Logistics Support

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