
설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.문서
문서 없음
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 어제
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
158857
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML / HMI
eP3
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 어제
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
158857
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.문서
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