설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.문서
문서 없음
KLA / ICOS
WI-2000
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
26027
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2008
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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WI-2000
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마지막 검증일: 60일 이상 전
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조건:
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