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KLA eS32
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    Electronic Defect Inspection
    OEM 모델 설명
    In February 2006, KLA introduced the latest addition to our eS3x series of e-beam inspection systems—the eS32. A single system spanning development and production applications, the eS32 provides the best sensitivity at throughput for defect types that optical systems cannot find.
    문서

    문서 없음

    KLA

    eS32

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    Defect Inspection

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    75601


    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm


    빈티지:

    알 수 없음


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    KLA eS32

    KLA

    eS32

    Defect Inspection
    빈티지: 0조건: 부품 도구
    마지막 검증일60일 이상 전

    KLA

    eS32

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    검증됨
    카테고리
    Defect Inspection
    마지막 검증일: 60일 이상 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    75601


    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm


    빈티지:

    알 수 없음


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    Available
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    Available
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    Available
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    설명 없음
    환경 설정
    Electronic Defect Inspection
    OEM 모델 설명
    In February 2006, KLA introduced the latest addition to our eS3x series of e-beam inspection systems—the eS32. A single system spanning development and production applications, the eS32 provides the best sensitivity at throughput for defect types that optical systems cannot find.
    문서

    문서 없음

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    KLA eS32

    KLA

    eS32

    Defect Inspection빈티지: 0조건: 부품 도구마지막 검증일:60일 이상 전
    KLA eS32

    KLA

    eS32

    Defect Inspection빈티지: 2006조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    KLA eS32

    KLA

    eS32

    Defect Inspection빈티지: 2006조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전