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KLA eS805
    설명
    E-beam Inspection
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.
    문서

    문서 없음

    KLA

    eS805

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    검증됨

    카테고리

    Defect Inspection
    마지막 검증일: 24일 전
    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    50097

    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm

    빈티지:

    알 수 없음

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    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
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    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    KLA eS805
    KLAeS805Defect Inspection
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일24일 전

    KLA

    eS805

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    카테고리

    Defect Inspection
    마지막 검증일: 24일 전
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    12"/300mm

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    The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.
    문서

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    KLA eS805
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    eS805
    Defect Inspection빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일: 24일 전