설명
Wafer SurfaceInspection환경 설정
HDDOEM 모델 설명
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.문서
문서 없음
KLA
2131
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 24일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
115260
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
1994
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
모두 보기
KLA
2131
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 24일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
115260
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
1994
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Wafer SurfaceInspection환경 설정
HDDOEM 모델 설명
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.문서
문서 없음