설명
Wafer Surface Inspection환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.문서
문서 없음
KLA
2131
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
105518
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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KLA
2131
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
105518
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
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In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.문서
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