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KLA 2131
  • KLA 2131
  • KLA 2131
  • KLA 2131
설명
Wafer Surface Inspection
환경 설정
환경 설정 없음
OEM 모델 설명
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.
문서

문서 없음

KLA

2131

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검증됨

카테고리
Defect Inspection

마지막 검증일: 60일 이상 전

주요 품목 세부 정보

조건:

Used


작동 상태:

알 수 없음


제품 ID:

105518


웨이퍼 사이즈:

알 수 없음


빈티지:

알 수 없음


Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available

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2131

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Defect Inspection
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In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.
문서

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