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환경 설정 없음OEM 모델 설명
The Candela CS920 is the first integrated surface and photoluminescence defect detection system for Silicon Carbide wafers. It has a UV laser for high sensitivity to defects and can detect and classify SiC epitaxy layer surface defects and crystal defects. These features help improve epitaxy yield.문서
문서 없음
KLA
CANDELA CS920
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 7일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
99789
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
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Logistics Support
Available
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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The Candela CS920 is the first integrated surface and photoluminescence defect detection system for Silicon Carbide wafers. It has a UV laser for high sensitivity to defects and can detect and classify SiC epitaxy layer surface defects and crystal defects. These features help improve epitaxy yield.문서
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