설명

KLA Advanced Macro Inspection Module

환경 설정

Macro Inspection

OEM 모델 설명

2900 and 2905: Optical broadband plasma wafer defect inspectors that provide capture of yield-relevant defects on 2Xnm memory and logic devices.

문서

문서 없음

KLA

2900

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 60일 이상 전

주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

91270

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2011

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

유사 등재물

모두 보기

KLA

2900

Defect Inspection

빈티지: 2011조건: 중고

마지막 검증일60일 이상 전

KLA

2900

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 60일 이상 전

listing-photo-9833c1548d6e4b44a5084d8895436347-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png

주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

91270

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2011

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

설명

KLA Advanced Macro Inspection Module

환경 설정

Macro Inspection

OEM 모델 설명

2900 and 2905: Optical broadband plasma wafer defect inspectors that provide capture of yield-relevant defects on 2Xnm memory and logic devices.

문서

문서 없음

유사 등재물

모두 보기

KLA

2900

Defect Inspection빈티지: 2011조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전