설명
No missing parts.환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The new Candela CS1 and CS2 systems address compound semiconductor wafer inspection applications, providing the unique capability to inspect both transparent and opaque wafers for detection and classification of particles and other process-related defects.문서
문서 없음
KLA
CANDELA CS1
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
47112
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2007
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA
CANDELA CS1
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
47112
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2007
Have Additional Questions?
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Available
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Available
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Available
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Available
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No missing parts.환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The new Candela CS1 and CS2 systems address compound semiconductor wafer inspection applications, providing the unique capability to inspect both transparent and opaque wafers for detection and classification of particles and other process-related defects.문서
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