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eDR-7100

카테고리
Defect Inspection
개요

The eDR-7100, an electron-beam wafer defect review and classification system that utilizes a fourth-generation immersion column and an advanced stage to quickly and accurately re-locate, image and classify yield-critical defects.

활성 등재물

1

서비스

검사, 보험, 감정, 물류

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