설명
Wafer Handling System for a Leica INS 2000 Defect Review System No Microscope is Included Cassette to Cassette Wafer Handling for up to 200mm Wafers SMC Digital Pressure Sensor 120V/230V, 50/60 Hz, P Max 400 VA CE Marked환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
KLA / VISTEC / LEICA
INS2000
검증됨
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
14788
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
1996
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / VISTEC / LEICA
INS2000
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
14788
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
1996
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Wafer Handling System for a Leica INS 2000 Defect Review System No Microscope is Included Cassette to Cassette Wafer Handling for up to 200mm Wafers SMC Digital Pressure Sensor 120V/230V, 50/60 Hz, P Max 400 VA CE Marked환경 설정
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