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Specification: Wafer Size: 300mm (200mm compatible) Objective Magnification: 2.5x / 10x / 20x / 50x / 100x / 150x Inspection Modes: Brightfield (BF), Darkfield (DF) Macro Inspection: Surface Macro, Center Backside Macro, Perimeter Backside Macro Load Port: 2 FOUP (Side or Rear selectable) Wafer Transfer: Robotic handling, Vacuum chuck, Non-contact pre-alignment Peripherals: HDD included, Mouse & KeyboardOEM 모델 설명
OPTISTATION-3200 wafer inspection system문서
문서 없음
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
142259
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm, 12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NIKON
OPTISTATION-3200
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
142259
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm, 12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Specification: Wafer Size: 300mm (200mm compatible) Objective Magnification: 2.5x / 10x / 20x / 50x / 100x / 150x Inspection Modes: Brightfield (BF), Darkfield (DF) Macro Inspection: Surface Macro, Center Backside Macro, Perimeter Backside Macro Load Port: 2 FOUP (Side or Rear selectable) Wafer Transfer: Robotic handling, Vacuum chuck, Non-contact pre-alignment Peripherals: HDD included, Mouse & KeyboardOEM 모델 설명
OPTISTATION-3200 wafer inspection system문서
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