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UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB TMAP-NST
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The TMAP NST is a non contact full field metrology solution based on optical microscopy enabling surface topography measurements at the nano scale.
    문서

    문서 없음

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    검증됨

    카테고리
    Defect Inspection

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105930


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB TMAP-NST

    UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB

    TMAP-NST

    Defect Inspection
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

    UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB

    TMAP-NST

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    검증됨
    카테고리
    Defect Inspection
    마지막 검증일: 60일 이상 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105930


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Logistics Support
    Available
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    Available
    Refurbishment Services
    Available
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The TMAP NST is a non contact full field metrology solution based on optical microscopy enabling surface topography measurements at the nano scale.
    문서

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    모두 보기
    UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB TMAP-NST

    UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB

    TMAP-NST

    Defect Inspection빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전