설명

Metrology / inspection system

환경 설정

Meas System Automated Wafer Handling (Qty 2) FOUP Factory Interface Process: Wafer Inspection Tool Software Version: TC*1.15.5/10.2.00 CIM: SECS/GEM

OEM 모델 설명

미제공

문서

문서 없음

HSEB / ZEISS

ODIN-A30

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 6일 전

주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

154827

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2012

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

유사 등재물

모두 보기

HSEB / ZEISS

ODIN-A30

Defect Inspection

빈티지: 2012조건: 중고

마지막 검증일6일 전

HSEB / ZEISS

ODIN-A30

검증됨

카테고리

Defect Inspection

마지막 검증일: 6일 전

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주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

154827

웨이퍼 사이즈:

12"/300mm

빈티지:

2012

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

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