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KLA ALERIS 8350
    설명
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    OEM 모델 설명
    The Aleris 8350 is a high-performance film metrology system that meets the tighter process tolerances required for thickness, refractive index and stress measurements on critical films. The Aleris 8350 film thickness measurement system is used for advanced film development, characterization and process control for a wide range of critical films, including ultra-thin diffusion layers, ultra-thin gate oxides, advanced photoresists, 193nm ARC layers, ultra-thin multi-layer stacks, and CVD layers.
    문서

    문서 없음

    KLA

    ALERIS 8350

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    검증됨

    카테고리
    Elipsometry

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    106608


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    KLA ALERIS 8350

    KLA

    ALERIS 8350

    Elipsometry
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일28일 전

    KLA

    ALERIS 8350

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    검증됨
    카테고리
    Elipsometry
    마지막 검증일: 60일 이상 전
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    조건:

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    제품 ID:

    106608


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    OEM 모델 설명
    The Aleris 8350 is a high-performance film metrology system that meets the tighter process tolerances required for thickness, refractive index and stress measurements on critical films. The Aleris 8350 film thickness measurement system is used for advanced film development, characterization and process control for a wide range of critical films, including ultra-thin diffusion layers, ultra-thin gate oxides, advanced photoresists, 193nm ARC layers, ultra-thin multi-layer stacks, and CVD layers.
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    KLA ALERIS 8350

    KLA

    ALERIS 8350

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:28일 전
    KLA ALERIS 8350

    KLA

    ALERIS 8350

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    KLA ALERIS 8350

    KLA

    ALERIS 8350

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전