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환경 설정 없음OEM 모델 설명
FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.문서
문서 없음
ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
검증됨
카테고리
Elipsometry
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
116507
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
모두 보기ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
카테고리
Elipsometry
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
116507
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
1993
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FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.문서
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