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환경 설정 없음OEM 모델 설명
Microspot Spectroscopic Ellipsometer Microspot spectroscopic ellipsometer of Semilab are capable of fully automated characterization of patterned, compound or (O)LED 300mm samples. Primary applications: - Front-end applications - Production wafer monitoring - Process development - Advanced Process Control: - Across wafer uniformity - Wafer to wafer uniformity - Batch to batch uniformity문서
SEMILAB
SE-3000
검증됨
카테고리
Elipsometry
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
84893
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2004
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
SEMILAB
SE-3000
카테고리
Elipsometry
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
84893
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2004
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Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available