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T5851

카테고리
Final Test
개요

The T5851 system is designed to provide a cost-effective test solution for evaluating high-speed protocol NAND flash memories including UFS3.0 universal flash storage and PCIe Gen 4 NVMe solid-state drives (SSD), both of which are expected to be in high demand for the LTE 5G communications market.

활성 등재물

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서비스

검사, 보험, 감정, 물류

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