메인 콘텐츠로 건너뛰기
Moov logo

Moov Icon
TAKANO / TOPCON WM-1500
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    ・Light source; argon-ion laser (λ = 488 nm, and 20 mW) detection method; scattered light detection method; spiral scanning method maximum detection sensitivity (practical measurable particle size); 0.100 μm dynamic range; 0.100 to 5.153 μm (calibrated with standard particles) detection reproducibility; (σn/X) × 100 with 1% or less cleanliness of equipment; 0.5 or less with a total number of counts of 0.100 μm or more
    OEM 모델 설명
    미제공
    문서

    문서 없음

    TAKANO / TOPCON

    WM-1500

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    Mask Inspection

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    26025


    웨이퍼 사이즈:

    6"/150mm, 8"/200mm


    빈티지:

    1997

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    TAKANO / TOPCON WM-1500

    TAKANO / TOPCON

    WM-1500

    Mask Inspection
    빈티지: 1997조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

    TAKANO / TOPCON

    WM-1500

    verified-listing-icon
    검증됨
    카테고리
    Mask Inspection
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    listing-photo-8d3cd0768f624388862df922fe49b1fa-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png
    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    26025


    웨이퍼 사이즈:

    6"/150mm, 8"/200mm


    빈티지:

    1997


    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    ・Light source; argon-ion laser (λ = 488 nm, and 20 mW) detection method; scattered light detection method; spiral scanning method maximum detection sensitivity (practical measurable particle size); 0.100 μm dynamic range; 0.100 to 5.153 μm (calibrated with standard particles) detection reproducibility; (σn/X) × 100 with 1% or less cleanliness of equipment; 0.5 or less with a total number of counts of 0.100 μm or more
    OEM 모델 설명
    미제공
    문서

    문서 없음

    유사 등재물
    모두 보기
    TAKANO / TOPCON WM-1500

    TAKANO / TOPCON

    WM-1500

    Mask Inspection빈티지: 1997조건: 중고마지막 검증일: 60일 이상 전