설명
Wafer Characterization환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The WaferCheck 7000 series of products are flexible, modular systems capable of automatically characterizing, inspecting and sorting semiconductor wafers. The WaferCheck 7000, the first large-scale, automated metrology system for the wafer manufacturing market.문서
문서 없음
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 14일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147580
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ADE
WAFERCHECK 7000
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 14일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147580
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Wafer Characterization환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The WaferCheck 7000 series of products are flexible, modular systems capable of automatically characterizing, inspecting and sorting semiconductor wafers. The WaferCheck 7000, the first large-scale, automated metrology system for the wafer manufacturing market.문서
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