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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD IMPERIA
    설명
    Wafer Characterization
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.
    문서

    문서 없음

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    IMPERIA

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    검증됨

    카테고리
    Metrology

    마지막 검증일: 15일 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    116288


    웨이퍼 사이즈:

    8"/200mm


    빈티지:

    알 수 없음


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    Logistics Support
    Available
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    Available
    Transaction Insured by Moov
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    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD IMPERIA

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    IMPERIA

    Metrology
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일15일 전

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

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    검증됨
    카테고리
    Metrology
    마지막 검증일: 15일 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


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    제품 ID:

    116288


    웨이퍼 사이즈:

    8"/200mm


    빈티지:

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    Metrology빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:15일 전
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