SiPHER
카테고리
Metrology개요
The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
활성 등재물
4
서비스
검사, 보험, 감정, 물류
상위 등재물
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Metrology빈티지: 2002조건: 중고마지막 검증일60일 이상 전ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Metrology빈티지: 조건: 중고마지막 검증일25일 전ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Metrology빈티지: 조건: 중고마지막 검증일60일 이상 전ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Metrology빈티지: 2002조건: 중고마지막 검증일60일 이상 전