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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER
    설명
    Concentration
    환경 설정
    PL Mapping
    OEM 모델 설명
    The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
    문서

    문서 없음

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

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    검증됨

    카테고리
    Metrology

    마지막 검증일: 30일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    112393


    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm


    빈티지:

    2000


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
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    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER

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    SiPHER

    Metrology
    빈티지: 2000조건: 중고
    마지막 검증일30일 이상 전

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

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    검증됨
    카테고리
    Metrology
    마지막 검증일: 30일 이상 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    112393


    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm


    빈티지:

    2000


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    Available
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    PL Mapping
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    The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
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    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

    Metrology빈티지: 2000조건: 중고마지막 검증일:30일 이상 전
    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

    Metrology빈티지: 2002조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전