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Wafer Thickness TesterOEM 모델 설명
The Model 6033T, using ADE’s patented capacitive measurement principle, measures wafers for Thickness and Total Thickness Variation (TVV). Whenever semiconductor wafer inspection is required, the MicroSense Model 6033T offers a low cost method of achieving fast, accurate measurements on wafers up to 150mm in diameter.문서
문서 없음
KLA / MICROSENSE
6033T
검증됨
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
93544
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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6033T
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Metrology
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The Model 6033T, using ADE’s patented capacitive measurement principle, measures wafers for Thickness and Total Thickness Variation (TVV). Whenever semiconductor wafer inspection is required, the MicroSense Model 6033T offers a low cost method of achieving fast, accurate measurements on wafers up to 150mm in diameter.문서
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