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KLA SpectraCD-XT
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    Model: SpectraCD-XTS+ N40~013
    OEM 모델 설명
    In February 2006, KLA introduced the SpectraCD-XT—our fourth-generation of inline optical CD metrology systems for advanced patterning process control at the 90nm and 65nm nodes. SpectraCD-XT is a non-destructive dedicated CD and profile metrology system built on our high-throughput, production-proven Archer platform. The tool is the only high performance spectroscopic ellipsometry (SE)-based
    문서

    문서 없음

    KLA

    SpectraCD-XT

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    검증됨

    카테고리

    Metrology
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    14632

    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm

    빈티지:

    알 수 없음

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    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
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    유사 등재물
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    KLA SpectraCD-XT
    KLASpectraCD-XTMetrology
    빈티지: 0조건: 중고
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    Model: SpectraCD-XTS+ N40~013
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    In February 2006, KLA introduced the SpectraCD-XT—our fourth-generation of inline optical CD metrology systems for advanced patterning process control at the 90nm and 65nm nodes. SpectraCD-XT is a non-destructive dedicated CD and profile metrology system built on our high-throughput, production-proven Archer platform. The tool is the only high performance spectroscopic ellipsometry (SE)-based
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    KLA
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    Metrology빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일: 60일 이상 전