메인 콘텐츠로 건너뛰기
Moov logo
Moov Icon
KLA ARCHER AIM+
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The Archer AIM+ is an advanced optical overlay metrology tool that sets the standard for lithography process control through the > 45-nm node. It improves yield and cost of ownership with a 20% increase in throughput over previous-generation solutions. It features field-proven AIM grating-style technology, improved optics design, and high accuracy measurements. Its applications include overlay metrology, CMP, lithography, and wafer surface focus and analysis.
    문서
    파일 아이콘

    KLA ARCHER AIM+.pdf

    KLA

    ARCHER AIM+

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리

    Metrology
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    58340

    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm

    빈티지:

    2006

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    KLA ARCHER AIM+
    KLAARCHER AIM+Metrology
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전
    KLA ARCHER AIM+
    KLAARCHER AIM+Metrology
    빈티지: 0조건: 개조됨
    마지막 검증일60일 이상 전
    KLA ARCHER AIM+
    KLAARCHER AIM+Metrology
    빈티지: 0조건: 개조됨
    마지막 검증일60일 이상 전

    KLA

    ARCHER AIM+

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리

    Metrology
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    listing-photo-c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1458/c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b/5b792dddb2854413938d1c39aacf2b4b_d94b1bd8a5ef4f8d82d52a082b6fe7eb1201a_mw.jpeg
    listing-photo-c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1458/c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b/7c12efc3f1ac4f34880e9181b44ce934_b80c21c9cfa64194a0d7e1285e27d1cd1201a_mw.jpeg
    listing-photo-c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1458/c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b/4f0bbd1b0d664e2983e2a0ccaad53355_a8cadfeb0c184de1ab35badfa58198e01201a_mw.jpeg
    listing-photo-c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1458/c9a7ee41d2384173a1072f31c6cf684b/5fdf2e2d74c84ef98310395882061a31_b2ef839e4d094fe2a68c2f6c23ee94951201a_mw.jpeg
    주요 품목 세부 정보
    조건:

    Used

    작동 상태:

    알 수 없음

    제품 ID:

    58340

    웨이퍼 사이즈:

    12"/300mm

    빈티지:

    2006

    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The Archer AIM+ is an advanced optical overlay metrology tool that sets the standard for lithography process control through the > 45-nm node. It improves yield and cost of ownership with a 20% increase in throughput over previous-generation solutions. It features field-proven AIM grating-style technology, improved optics design, and high accuracy measurements. Its applications include overlay metrology, CMP, lithography, and wafer surface focus and analysis.
    문서
    파일 아이콘

    KLA ARCHER AIM+.pdf

    유사 등재물
    모두 보기
    KLA ARCHER AIM+
    KLA
    ARCHER AIM+
    Metrology빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일: 60일 이상 전
    KLA ARCHER AIM+
    KLA
    ARCHER AIM+
    Metrology빈티지: 0조건: 개조됨마지막 검증일: 60일 이상 전
    KLA ARCHER AIM+
    KLA
    ARCHER AIM+
    Metrology빈티지: 0조건: 개조됨마지막 검증일: 60일 이상 전