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KLA ARCHER AIM+
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    The Archer AIM+ is an advanced optical overlay metrology tool that sets the standard for lithography process control through the > 45-nm node. It improves yield and cost of ownership with a 20% increase in throughput over previous-generation solutions. It features field-proven AIM grating-style technology, improved optics design, and high accuracy measurements. Its applications include overlay metrology, CMP, lithography, and wafer surface focus and analysis.
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    ARCHER AIM+

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    검증됨

    카테고리
    Metrology

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


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    제품 ID:

    92046


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    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일5일 전

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    The Archer AIM+ is an advanced optical overlay metrology tool that sets the standard for lithography process control through the > 45-nm node. It improves yield and cost of ownership with a 20% increase in throughput over previous-generation solutions. It features field-proven AIM grating-style technology, improved optics design, and high accuracy measurements. Its applications include overlay metrology, CMP, lithography, and wafer surface focus and analysis.
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    Metrology빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일: 5일 전
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    Metrology빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일: 60일 이상 전
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    Metrology빈티지: 0조건: 개조됨마지막 검증일: 60일 이상 전