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Maximum size: 210×210 mm. Semi-automatic measuring instrument of resistivity / sheet resistance by 4 point probe method Semiconductor materials, Solar-cell materials (Silicon, Polysilicon, SiC etc) New materials, functional materials (Carbon nanotube, DLC, graphene, Ag nanowire etc) Conductive thin film (Metal, ITO etc) Diffused sample , Silicone thin film(LTPS,etc ) Silicon-related epitaxial materials, Ion-implantation sampleOEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
NAPSON
RG-200PV
검증됨
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
114433
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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