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NAPSON RG-200PV
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    Maximum size: 210×210 mm. Semi-automatic measuring instrument of resistivity / sheet resistance by 4 point probe method Semiconductor materials, Solar-cell materials (Silicon, Polysilicon, SiC etc) New materials, functional materials (Carbon nanotube, DLC, graphene, Ag nanowire etc) Conductive thin film (Metal, ITO etc) Diffused sample , Silicone thin film(LTPS,etc ) Silicon-related epitaxial materials, Ion-implantation sample
    OEM 모델 설명
    미제공
    문서

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    NAPSON

    RG-200PV

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    검증됨

    카테고리
    Metrology

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    114433


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Logistics Support
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    Available
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    NAPSON RG-200PV

    NAPSON

    RG-200PV

    Metrology
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

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