설명
Atomic Force Microscope (AFM) controller환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Scanning probe microscopy (SPM) and atomic force microscopy (AFM) controllers문서
문서 없음
카테고리
Microscope
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
151587
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS
NanoScope IVa
카테고리
Microscope
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
151587
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Atomic Force Microscope (AFM) controller환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Scanning probe microscopy (SPM) and atomic force microscopy (AFM) controllers문서
문서 없음