설명
Overlay Measurement System환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The YieldStar 1375F delivers nanometer-level overlay and CD measurements based on diffraction from chip structures themselves or small targets placed within the chip design.문서
문서 없음
카테고리
Overlay
마지막 검증일: 19일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147631
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML
YieldStar 1375F
카테고리
Overlay
마지막 검증일: 19일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147631
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Overlay Measurement System환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The YieldStar 1375F delivers nanometer-level overlay and CD measurements based on diffraction from chip structures themselves or small targets placed within the chip design.문서
문서 없음