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10-3KLA_A600_IBOREG_01OEM 모델 설명
To help achieve sub-3nm overlay error for advanced logic and memory devices KLA introduced the Archer 600 imaging-based overlay metrology system. New optics in combination with innovative ProAIM targets deliver better resilience to process variations and improved correlation between measurement target and actual device pattern overlay errors, producing more accurate overlay measurements.문서
문서 없음
카테고리
Overlay
마지막 검증일: 16일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
149556
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA
ARCHER 600
카테고리
Overlay
마지막 검증일: 16일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
149556
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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10-3KLA_A600_IBOREG_01OEM 모델 설명
To help achieve sub-3nm overlay error for advanced logic and memory devices KLA introduced the Archer 600 imaging-based overlay metrology system. New optics in combination with innovative ProAIM targets deliver better resilience to process variations and improved correlation between measurement target and actual device pattern overlay errors, producing more accurate overlay measurements.문서
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