설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Epilayer uniformity defects and contamination, with automated wafer handling.문서
문서 없음
카테고리
Photoluminescence Mapper
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
30671
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
RPM SIGMA
카테고리
Photoluminescence Mapper
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
30671
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
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Available
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Epilayer uniformity defects and contamination, with automated wafer handling.문서
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