설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Helios NanoLab 1200 Full Wafer DualBeam Technology for High Resolution Imaging, Analysis and TEM Sample Preparation for 300 mm Wafers문서
문서 없음
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 17일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
138745
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
HELIOS NANOLAB 1200
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 17일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
138745
웨이퍼 사이즈:
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빈티지:
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Helios NanoLab 1200 Full Wafer DualBeam Technology for High Resolution Imaging, Analysis and TEM Sample Preparation for 300 mm Wafers문서
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