설명
Wafer SEM환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscope문서
문서 없음
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 14일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
152412
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
Helios 5 EXL
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 14일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
152412
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Wafer SEM환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscope문서
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