설명
Performance Resolution: 6 nm (30 kV, WD = 8 mm, secondary electron image). Magnification: 15x (WD = 48 mm) 200,000x, provided with an automatic magnification correction device. Imaging signals: Secondary electrons, backscattered electrons.환경 설정
SEM system, JEOL JSM T300 electron microscope.OEM 모델 설명
미제공문서
JEOL
JSM-T300
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 오늘
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
Installed / Idle
제품 ID:
150627
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
1
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available