설명
The lower portion of the FIB column needs to be replaced Dem column is functional but there's noise in the image Magnification range: 1000kX Detectors: SE In-Beam SE BSE Process: PCB / C4 Operating system: Windows 10 Pro환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
TESCAN
XEIA 3
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
138441
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
2016
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
The lower portion of the FIB column needs to be replaced Dem column is functional but there's noise in the image Magnification range: 1000kX Detectors: SE In-Beam SE BSE Process: PCB / C4 Operating system: Windows 10 Pro환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음