설명
Details Attached환경 설정
FA SEMs/TEMs/Dual Beams Specification: Secondary electron image resolution: 0.8 nm @ 15kV 1.4 nm @ 1kV 0.6 nm @ 30kV STEM Mode 3.0 nm @ 20Kv at 10nA WD = 8.5nm Magnification: 12 – 2,000,000X Specimen Stage: Stage Motorization: 5 Axis Stage Motorization X = 130mm, Y = 130mm, Z = 50mm, T = -3 to 70 deg, R = 360 deg Configuration: Operating System: Windows XP Pro BSD STEM Load Lock Motorized Stage Smart SEM Version 5.07 Oxford EDX 50mm Sq detector XEI Plasma CleanerOEM 모델 설명
미제공문서
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 어제
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
148922
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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ZEISS / CARL ZEISS
MERLIN
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 어제
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
148922
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available