설명
Samples up to 9.5mm x 5mm x 2.4 mm (height)환경 설정
High resolution, cold field emission SEM. 0.5 to 30 kV Magnification range of 30X to 800,000X Image resolutions of 0.6nm (at 30kV) and 3.5nm (at 1kV) are possible with secondary electron images.OEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
HITACHI
S-5000
검증됨
카테고리
SEM
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
55337
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Transaction Insured by Moov
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Refurbishment Services
Available
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S-5000
검증됨
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SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
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조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
55337
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Samples up to 9.5mm x 5mm x 2.4 mm (height)환경 설정
High resolution, cold field emission SEM. 0.5 to 30 kV Magnification range of 30X to 800,000X Image resolutions of 0.6nm (at 30kV) and 3.5nm (at 1kV) are possible with secondary electron images.OEM 모델 설명
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